點擊查看:2021年10月自考互聯(lián)網(wǎng)數(shù)據(jù)庫常考點匯總
(1)基本聚集函數(shù):由于聚集函數(shù)的計算很費時間,在數(shù)據(jù)倉庫中常常把這些計算結果當作實視圖保存起來,一次計算可供多次使用。SQL提供五種聚集函數(shù):SUM,COUNT,AVG,MAX,MIN.
(2)立方體操作:事實表是個多維表,每個元組可用多維空間的一個點或單元表示,數(shù)據(jù)立方體可以推廣到任意維,設維數(shù)為k,則k維超立方體可表示2個實視圖。在此立方體的基礎上,可進行切片,切塊操作,即以某一個維度為標準,對立方體進行切割的操作。
(3)上卷和下探操作:在計算聚集函數(shù)時,分組的粒度有粗細之分。由細粒度分組的聚集函數(shù)可以推算出與其相關的粗粒度分組的聚集函數(shù)反之則不可行。上卷操作就是由細粒度分組的聚集函數(shù)推算出粗粒度分組的過程。下探操作是上卷操作的逆操作,即通過細化維的粒度,查詢較詳細的數(shù)據(jù)。下探操作與上卷操作不同,在上卷時,可以由細粒度的實視圖推導出粗粒度的實視圖,即不但可以向上查詢,而且可以向上生成,由于從粗粒度實視圖推導不出細粒度視圖,不能通過下探操作由粗到細地生成實視圖。如果這些細粒度的實視圖已經(jīng)生成,可以通過下探操作向下查詢。
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